용어검색/반도체측정 편향Measurement bias팩별 설명반도체 수율·불량 L1반도체 테스트 L1반도체 계측·검사 L1반도체 공정 L2반도체 장비 L2반도체 수율·불량 L2반도체 테스트 L2반도체 클린룸·오염관리 L2Fab 자동화·MES L2측정 편향은 기준값에 비해 측정 평균이 한쪽으로 치우친 정도다.정의 복사관련 학습 ↓설명반복값이 매우 일정해도 기준과 어긋날 수 있다. 기준 시료의 값과 불확실성, 적용 범위를 함께 고려한다.예시참조값 100nm인 시료를 반복 측정해 평균 102nm가 나왔다면 약 +2nm 편향을 검토한다. 산포가 작아도 정확한 것은 아니다.구분정밀하게 반복되는 것과 기준에 맞는 것은 다르다.함께 배우는 용어유효 다이 수↗유효 다이 수는 미리 정한 규칙에 따라 수율 계산 대상으로 삼는 다이의 개수다.웨이퍼 전기검사 수율↗웨이퍼 전기검사 수율은 웨이퍼 상태에서 시험한 유효 다이 중 합격한 다이의 비율이다.명시야 검사↗명시야 검사는 주로 정반사 성분을 포함한 밝은 배경 영상의 차이로 이상을 찾는 광학 방식이다.이전 용어← 측정 대상량다음 용어반복성 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개