용어검색/전자제조광원-검출기 거리Source-to-Detector DistanceSDD광원-검출기 거리는 X-ray 발생 위치에서 검출기 면까지의 거리다.정의 복사관련 학습 ↓설명물체 거리와의 비가 배율을 정한다. 거리의 절대값 하나만으로 물체상 샘플링을 설명할 수는 없다.예시검출기 거리가 400 mm인 두 장비 조건이라도 물체가 40 mm와 80 mm에 있으면 배율은 각각 10배와 5배다.구분비교할 때 두 거리와 검출기 픽셀 조건을 함께 적는다.함께 배우는 용어검사 커버리지↗검사 커버리지는 정해진 결함 종류와 위치 중 실제 검사 방법으로 확인하는 범위를 뜻한다.PCB↗PCB는 절연 기반 위의 도체 패턴으로 전기적 연결과 부품 지지 구조를 제공하는 인쇄회로기판이다.PCBA↗PCBA는 PCB에 전자부품을 실장하고 필요한 접속을 만든 조립체다.이전 용어← 광원-물체 거리다음 용어기하학적 불선명도 →전자제조 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구L0전자제조 시작10무료학습 10개L1SMT Assembly오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Soldering · Reflow오픈 30% · 27,300원학습 30개L1AOI · X-ray Inspection오픈 30% · 27,300원학습 30개L1ICT · FCT Test오픈 30% · 27,300원학습 30개