용어검색/반도체시험 메서드Test method시험 메서드는 특정 항목에서 자극 설정·측정·계산·판정을 수행하는 실행 절차다.정의 복사관련 학습 ↓설명누설 측정 메서드라면 전압 인가, 안정화, 전류 읽기, 유효 상태 확인과 한계 비교가 포함된다. 같은 메서드를 다른 매개변수로 사용할 수 있다.예시메서드의 코드가 그대로여도 대기 시간이나 측정 범위가 바뀌면 결과가 달라질 수 있다.구분실행 절차와 입력 매개변수를 함께 식별한다.함께 배우는 용어DUT↗DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.번인↗번인은 정해진 시간 동안 온도·전압 등의 스트레스를 가하여 초기 취약품을 드러내고 선별하는 시험이다.프로브 카드↗프로브 카드는 웨이퍼 패드와 테스터를 미세 접촉자로 전기적으로 연결하는 인터페이스다.이전 용어← 핀맵다음 용어시험 번호 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개