용어검색/반도체시험 번호Test number시험 번호는 결과 데이터에서 특정 시험 항목을 구별하기 위해 부여한 식별자다.정의 복사관련 학습 ↓설명서로 다른 조건에 같은 번호를 재사용하면 분석에서 다른 측정값이 합쳐질 수 있다. 이름·단위·조건과 대응을 유지한다.예시동일 전류 항목도 전압이나 온도가 다르면 분석 구분이 필요하다. 단순히 이름이 비슷하다고 합치지 않는다.구분식별자는 결과의 의미를 보존하는 연결 고리다.함께 배우는 용어DUT↗DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.번인↗번인은 정해진 시간 동안 온도·전압 등의 스트레스를 가하여 초기 취약품을 드러내고 선별하는 시험이다.프로브 카드↗프로브 카드는 웨이퍼 패드와 테스터를 미세 접촉자로 전기적으로 연결하는 인터페이스다.이전 용어← 시험 메서드다음 용어한계 테이블 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개