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사이트

Test site

사이트는 병렬 시험에서 하나에 대응하도록 구성한 접촉 위치와 자원 묶음이다.

DUT

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

설명

사이트 번호는 제품 고유 ID가 아니라 시험 위치를 가리킨다. 특정 사이트만 반복 실패하면 공통된 접촉·배선·전원 경로가 원인 후보가 된다.

같은 제품을 승인된 비교 시험으로 다른 사이트에 옮겼을 때 실패가 위치를 따라가는지 제품을 따라가는지 살핀다.

사이트 정보는 제품 정보와 별도로 반드시 보존한다.

DUT는 현재 시험 대상으로 연결한 소자나 칩, 패키지 등을 뜻한다.

반도체 테스트는 칩에 정해진 전기적 조건을 가하고 그 응답을 측정·비교하여 요구사항 충족 여부를 판단하는 과정이다.

파라미터 시험은 전압·전류·저항·시간 등 전기적 특성을 수치로 측정하여 기준과 비교하는 시험이다.