설명
회사마다 직무명과 경계는 다를 수 있다. , 공정 중 검사, , 테스트 데이터를 여러 공정 이력과 연결하는 분석 능력이 핵심이다.
웨이퍼 위의 다이·불량·측정 결과를 2차원 좌표로 표시한 지도 형태의 데이터.
용어 상세 ↗공정 데이터를 시간에 따라 통계적으로 모니터링해 정상적인 변동과 이상 신호를 구분하고 공정 안정성을 관리하는 방법.
용어 상세 ↗예시
특정 특징 이 한 챔버와 강하게 연관되는지 분석하고 모듈 팀과 개선 실험을 설계한다.
관련 용어: 결함 / / /
패턴·막·전기특성 등에서 정상 기대상태와 달라 제품 성능이나 수율에 악영향을 줄 수 있는 이상.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗웨이퍼 위의 다이·불량·측정 결과를 2차원 좌표로 표시한 지도 형태의 데이터.
용어 상세 ↗공정 데이터를 시간에 따라 통계적으로 모니터링해 정상적인 변동과 이상 신호를 구분하고 공정 안정성을 관리하는 방법.
용어 상세 ↗문제를 직접 유발하거나 재발을 가능하게 한 가장 근본적인 원인으로, 제거·통제하면 같은 문제의 반복 가능성을 낮출 수 있는 원인.
용어 상세 ↗구분
엔지니어는 여러 모듈을 가로질러 수율을 제한하는 특징 을 추적하는 비중이 높다.
투입·제조된 제품 가운데 요구 기준을 만족하는 양품이 차지하는 비율. 웨이퍼 문맥에서는 생산 가능한 다이 중 정상 칩의 비율로 설명된다.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗