설명
측벽 보호 부족·이온 산란·국부 반응 차이 등이 원인 후보가 된다. 상부와 바닥 만 측정하면 중간의 최대 폭을 놓칠 수 있다.
임계 치수인 CD는 소자의 기능이나 제조 허용 범위를 결정하는 중요한 패턴 치수다.
용어 상세 ↗예시
상부 합격인데 인접 구조 간 절연 여유가 줄었다면 중간 단면도 확인한다.
임계 치수인 CD는 소자의 기능이나 제조 허용 범위를 결정하는 중요한 패턴 치수다.
용어 상세 ↗구분
형상 이상은 깊이 방향 전체 프로파일로 판단한다.