메모리 내장 자체시험
Memory BIST
MBISTMemory Built-in Self-test
메모리 내장 자체시험은 칩 내부의 시험 회로가 메모리에 시험 패턴을 쓰고 읽어 동작을 확인하는 기능이다.
설명
외부 장비가 모든 세부 동작을 직접 만드는 부담을 줄일 수 있다. 다만 채택한 시험 패턴과 관찰 경로가 잡을 수 있는 결함에 범위가 한정된다.
예시
자체시험 통과는 외부 인터페이스의 모든 고속 조건까지 통과했다는 뜻이 아니다. 셀 검사와 외부 연결 검사를 구분해 시험 계획을 세운다.
구분
내장 시험은 검사 접근을 돕지만 전체 제품 검사를 자동으로 대체하지는 않는다.