테스트 용이성 설계
Design for Testability
DFTDesign for Test
테스트 용이성 설계는 회로 내부의 상태를 제어하고 관찰하기 쉽도록 검사 기능을 설계에 넣는 일이다.
설명
외부 핀만으로 접근하기 어려운 내부 회로에는 시험 모드나 검사 경로가 필요하다. 적층 뒤 가려지는 다이와 연결도 검사 접근을 미리 계획해야 한다.
예시
패키징이 끝난 뒤 검사 핀을 추가하기는 어렵다. 설계 단계에서 검사 장비와 연결 방법, 내부 시험 결과를 읽는 경로를 합의한다.
구분
검사 가능성은 조립이 끝난 뒤가 아니라 회로와 패키지 설계 때부터 만든다.