용어검색/반도체샘플링Sampling팩별 설명반도체 장비 L1반도체 계측·검사 L1Fab 자동화·MES L1반도체 소자 L1샘플링은 전체 대상 중 일부를 선택하여 상태를 추정하거나 판단하는 방법이다.정의 복사관련 학습 ↓설명웨이퍼 수와 위치, 시간 간격과 선택 방식이 놓칠 수 있는 변화를 결정한다. 일부 측정의 합격은 검사하지 않은 모든 위치의 절대적 보증이 아니다.웨이퍼웨이퍼는 반도체 소자를 만드는 기판이다.용어 상세 ↗예시중앙만 측정하면 가장자리 이상을 놓칠 수 있다. 예상 결함 형태와 공정 위험에 맞춰 측정 위치를 설계한다.구분몇 개를 보았는지뿐 아니라 어디와 언제의 대상을 보았는지 확인한다.함께 배우는 용어웨이퍼↗웨이퍼는 반도체 소자를 만드는 기판이다.레시피↗레시피는 장비가 공정을 수행하도록 단계별 설정값·시간·전환 조건을 묶어 둔 작업 조건 집합이다.클러스터 장비↗클러스터 장비는 공통 이송부에 여러 공정·처리 모듈을 연결한 장비 구성이다.이전 용어← 결함 지도다음 용어측정 불확도 →반도체 기술지도전체 지도 ↗L0 큰 그림L1 분야 이해L2 깊은 탐구✦ BESTL0반도체 시작10무료학습 10개✦ BESTL1반도체 용어오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 공정오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 장비오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 패키징·HBM오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 수율·불량오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 테스트오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 계측·검사오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소재오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 소자오픈 30% · 27,300원학습 30개L1반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L2반도체 클린룸·오염관리오픈 30% · 27,300원학습 30개L1Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개L2Fab 자동화·MES오픈 30% · 27,300원학습 30개