설명
와 겹쳐 쓰일 수 있지만 글로벌 테스트 산업에서는 소트/웨이퍼 테스트라는 표현이 더 일반적인 상위 생산시험 용어다.
웨이퍼 제조가 끝난 뒤 각 다이의 전기적 동작과 특성을 검사해 정상 다이와 불량 다이를 선별하고, 가능한 경우 다이 리페어까지 수행하는 웨이퍼-수준 테스트 공정.
용어 상세 ↗여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗예시
와 가 각 패드에 접촉하고 가 테스트 을 실행해 다이를 분류한다.
관련 용어: 프로브 카드 / 프로버 / 자동화 반도체 테스트 장비 /
웨이퍼를 정밀하게 이동·정렬하고 온도를 제어하며 프로브 카드와 각 다이가 정확히 접촉하도록 해 웨이퍼-수준 테스트를 자동화하는 장비.
용어 상세 ↗웨이퍼 테스트에서 테스터 신호를 다수의 프로브 needle/콘택트를 통해 다이 패드에 전달하고 응답을 다시 테스터로 연결하는 정밀 테스트 인터페이스.
용어 상세 ↗웨이퍼 위에 만들어진 개별 집적회로 단위. 웨이퍼를 웨이퍼 다이싱하면 각각의 다이로 분리된다.
용어 상세 ↗반도체 소자에 전기적 자극 신호를 인가하고 응답을 정밀 측정해 기능·성능·전기특성을 자동 판정하는 테스터 시스템.
용어 상세 ↗회로 설계가 웨이퍼 위에 선·공간·구조 형태로 구현된 미세 형상.
용어 상세 ↗여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗웨이퍼 위의 다이·불량·측정 결과를 2차원 좌표로 표시한 지도 형태의 데이터.
용어 상세 ↗구분
소트는 테스트 스테이지이고 는 와 테스터를 전기적으로 연결하는 인터페이스다.
여러 개의 동일한 집적회로를 한꺼번에 제조하기 위한 얇고 둥근 반도체 기판.
용어 상세 ↗웨이퍼 테스트에서 테스터 신호를 다수의 프로브 needle/콘택트를 통해 다이 패드에 전달하고 응답을 다시 테스터로 연결하는 정밀 테스트 인터페이스.
용어 상세 ↗웨이퍼 위에 만들어진 개별 집적회로 단위. 웨이퍼를 웨이퍼 다이싱하면 각각의 다이로 분리된다.
용어 상세 ↗